透過型電子顕微鏡(TEM)によるスチレン系エラストマーの微細構造観察
スチレン-エチレン/ブテン-スチレンブロック共重合体(SEBS)等の
スチレン系熱可塑性エラストマー中の微細構造(ミクロ相分離構造)をTEMで観察しました。
その結果、スチレン系エラストマー2種類で微細構造に違いがあることが示されました。
これらのエラストマーは樹脂改質材として広く添加使用されており、複合材料中での
スチレン系エラストマーの分散状態についても、弊社の電子染色技術によりTEM観察が可能です。
その他、ブロック共重合体やグラフト共重合体の微細構造のTEM観察にご興味ある方も
ご遠慮なくご相談下さい。
▶関連資料
・透過型電子顕微鏡(TEM)による耐衝撃性樹脂材料観察事例
・透過型電子顕微鏡(TEM)によるブロックポリプロピレンの分散構造