平素は格別のご高配を賜り、誠にありがとうございます。

新たに技術資料を掲載いたしました。

▶　透過型電子顕微鏡(TEM)によるスチレン系樹脂(HIPS・ABS)中の微小分散ゴムの観察
▶　透過型電子顕微鏡(TEM)画像の定量化(画像解析)
▶　透過型電子顕微鏡(TEM)によるスチレン系エラストマーの微細構造観察
▶　樹脂材料の異臭原因調査のにおい分析

 

 

上記以外にも多数の技術資料を掲載しております。